Seagate的自检测 (3)

八喜 · 发表于 2005-7-11 13:20:15

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在Cert流程表中,  各个流程段所做的工作是不同的:

01-03 预处理(可能清除所有FW)

04-0F  伺服测试(包括扫描缺陷轨道)

10-1F  通道优化测试

20-2F  伺服参数调试

30-3E  缺陷扫描,分析,处理 (精确扫描坏[wiki]扇区[/wiki]并作屏蔽)

40-4E  逻辑方式工作测试 (没有任何修复作用,仅作为出厂前的可靠性测试, 只要在任何一个过程发现有错误就认为该[wiki]硬盘[/wiki]不适宜出厂)

4F-50 失败或成功的最后处理